IM3570阻抗分析儀產品的特點
不同測量條件下，1臺進行高速測量
測量電容等零部件時，有時在不同條件下（頻率、電平）測量多種測量項目，1條生產線中需要多臺測量儀器。IM3570可再不同測量條件下進行高速連續測量，1臺儀器即可滿足所有要求。
檢查速度提高了2倍（跟以往型號相比）
和HIOKI的以往型號（3532-50）相比，大大縮短了測量時間。LCR模式下，以往機型一般需要5ms的測量時間，而IM3570的檢查速度提高了2倍。需要全數檢查電子零部件的生產線中，IM3570發揮了作用。
測量的反復精度提高了1位（※1mΩ，100次測量時）
功能性高分子電容在推進低ESR化的同時，要求正確測量多個mΩ。IM3570在測量低阻抗時的精度比以往機型提高了1位，因此為用戶提供穩定測量。
廣范圍的測量頻率
IM3570可在DC和4Hz～5Hz的范圍內設置5位分辨率的頻帶（1kHz以下為0.01Hz分辨率）?？稍诮咏舱耦l率的測量和工作條件的狀態下進行測量和評價。
15種測量參數
可測量Z、Y等15種參數，并將需要的參數讀取至計算機中。
具備防止誤操作的接觸檢查功能
裝載了4端子測量、2端子測量的接觸檢查功能。防止在測量電極不接觸被測物的狀態下測量的情況，因此可以避免出現未檢查的產品出廠。
廣范圍的測量電壓/電流
外加一般的開路信號發生，可在恒壓/恒流模式下進行考慮到電壓/電流依存性的測量?？稍O置廣范圍的、5mV~5V/10μA~50mA（~1MHz）以下的測量信號電平。
測試線可延長至4m
4端子的構造可降低測試線的影響，測試線長達4m仍可保證精度。從而便于自動設備的配線。
IM3570阻抗分析儀主要參數
| 測量模式 | LCR模式：單一條件下測量 分析儀模式： 根據測量頻率、測量電平進行掃描 （測量點：1~801，掃描方法：一般掃描/分區掃描，顯示：列表顯示/圖表顯示） 連續測量模式： 連續測量保存的條件（zui多32個） |
| 測量參數 | Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q |
| 測量量程 | 100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數都根據Z來確定） |
| 基本精度 | Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° |
| 測量頻率 | 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進） |
| 測量信號電平 | 普通模式： V模式、CV模式：5mV~5Vrms（1MHz以下）， 10mV~1Vrms（1MHz~5MHz），1mVrms步進 CC模式：10μA~50mArms（1MHz以下） 10μA~10mArms（1MHz~5MHz），10μArms步進 低阻抗高精度模式： V模式、CV模式：5mV~1Vrms（100kHz以下）， 1mVrms步進 CC模式：10μA~100mArms（100kHz以下的100mΩ和1Ω量程）， 10μArms步進 |
| 輸出阻抗 | 普通模式：100Ω 低阻抗高精度模式：10Ω |
| 顯示 | 彩色TFT5.7英寸，可設置顯示開或關 |
| 顯示位數設置 | 可設置3~7位的顯示位數，初始值為6位 |
| 測量時間 | 0.5ms（100kHz、FAST、顯示關，代表值） |
| 測量速度 | FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
| DC偏壓測量 | 普通模式：DC0V~2.50V（10mV步進） 低阻抗高精度模式：DC0V~1.00V（10mV步進） |
| 直流電阻測量 | 普通模式：測量信號電平 DC100mV~2.5V（10mV步進） 低阻抗高精度模式：測量信號電平 DC100mV~1.00V（10mV步進） |
| 比較器 | LCR模式：第1、第3項目的Hi/IN/Lo 分析模式： 區域判斷（各點的Hi/IN/Lo）、 峰值判斷（極大、極小的頻率和值的Hi/IN/Lo） |
| 存儲功能 | 主機可保存32000個數據 |
| 接口 | EXT I/O（handler） RS-232C GP-IB USB（Hi-Speed/Full-Speed） U盤 LAN（10BASE-T/100BASE-TX） |
| 電源 | AC90~264V，50/60Hz，zui大150VA |
| 體積和質量 | 約330W×119H×307Dmm，約5.8kg |
